鍍層測(cè)厚儀的運(yùn)用分析,有需要的客戶可以仔細(xì)閱讀一下,以下請(qǐng)跟隨小編一起來(lái)閱讀吧。鍍層的厚度決定了零件的耐腐蝕、裝飾效果、防滑耐磨能力,必須根據(jù)設(shè)計(jì)要求操作,保證鍍層厚度。

是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后,將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào);經(jīng)過(guò)模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)獨(dú)有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過(guò)數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。
它能檢測(cè)出常見(jiàn)金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn),廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。
儀器介紹
儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,使用大鈹窗薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器,其探測(cè)器分辨率*低為139eV,處于國(guó)際*水平;產(chǎn)品采用上照式設(shè)計(jì),多重防輻射保護(hù)裝置以及X射線發(fā)生器,使輻射劑量符合國(guó)際規(guī)定;樣品觀察系統(tǒng)采用CCD攝像頭、數(shù)字多道分析器、激光定位以及研發(fā)的測(cè)厚分析軟件,各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求,技術(shù)達(dá)國(guó)際*水平。

優(yōu)點(diǎn)簡(jiǎn)述
該款鍍層儀器專(zhuān)為電子半導(dǎo)體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等行業(yè)量身打造的*儀器。XYZ三個(gè)可調(diào)節(jié)方向、樣品觀察系統(tǒng)和激光定位使得檢測(cè)更方便。大的測(cè)試內(nèi)部空間,良好的散熱效果和抗電磁干擾能力,模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使安裝、調(diào)試、維護(hù)更方便,可適應(yīng)惡劣工作環(huán)境
電鍍適用范圍
鐵基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni, □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1 快速:一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要10S~60S,樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理;
2 無(wú)損:物理測(cè)量,不改變樣品性質(zhì);
3 準(zhǔn)確:對(duì)樣品可以分析;
4 直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5 環(huán)保:檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。

性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加*
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)
儀器:X熒光鍍層測(cè)厚儀
型號(hào):Thick 800A
外型尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸: 500(W)×350(D)×140(H) mm
樣品臺(tái)尺寸: 230(W)×210(D)mm
Z軸升降平臺(tái)升降范圍: 0~140mm
平臺(tái)移動(dòng)測(cè)量范圍 : 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
分析方法: FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍 :原子序數(shù)為16S~92U之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)元素 一次可同時(shí)分析*多24個(gè)元素,五層鍍層
檢出限 :金屬鍍層分析可達(dá)0.005μm
厚度范圍:分析鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
穩(wěn)定性: 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)1%
檢測(cè)時(shí)間 :30-60秒
探測(cè)器及分辨率 :25mm2Be窗口SDD探測(cè)器,分辨率140±5eV
激發(fā)源: 50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源
多道分析器 : DMCA數(shù)字多道分析技術(shù),分析道數(shù)4096道
準(zhǔn)直器和濾光片 固定Ф0.2mm準(zhǔn)直器,可選配其他孔徑,Al濾光片
定位 :平臺(tái)電機(jī)重復(fù)定位精度小于0.1um
樣品觀察: 配備CCD多彩攝像頭,圖像放大可達(dá)40倍,實(shí)現(xiàn)微小樣品清晰定位。
平臺(tái)穩(wěn)定性 :Z軸測(cè)試平臺(tái)采用恒力彈簧平衡重力,實(shí)現(xiàn)平臺(tái)的恒力升降,有效降低Z軸電機(jī)負(fù)荷,并有效保證了Z軸的垂直度。
安全性 雙重安全保護(hù)設(shè)施:防撞激光檢測(cè)器與樣品室門(mén)開(kāi)閉傳感器;待機(jī)無(wú)輻射,工作時(shí)輻射水平遠(yuǎn)低于國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn),且軟件連動(dòng)裝置。
操作環(huán)境溫濕度 :15℃~30℃,≤70%
儀器重量 :90kg
工作電源:交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
軟件優(yōu)勢(shì)
采用公司能量色散X熒光FpThick軟件,*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。
多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
安裝要求
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。
售后保障
1. 儀器進(jìn)行終身維修;
2. 軟件免費(fèi)升級(jí):如有軟件升級(jí),乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí),不再收取升級(jí)費(fèi)用;
3. 技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限:提供*有效的技術(shù)服務(wù)
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
檢測(cè)實(shí)例


